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放射照像檢測> 牙科X線成像性能測試> 全景牙科攝影測試模型>

YZC1732F2 頭影畸變測試卡(201042)


產(chǎn)品型號:

201042

標  準:

YY/T 1732-2020 口腔曲面體層X射線機專用技術條件


應用范圍:

測試卡置于成像基準面上,使網(wǎng)格軸線與視野軸平行,曝光。計算X軸,Y軸雙端完整網(wǎng)格線,4線交點與其視野軸線的交點按照公式計算。

 


產(chǎn)品簡介:

測量頭影圖像畸變率


技術參數(shù):

1.基礎材質PMMA,矩形測試卡,340x280mm

2.測試插件:26行x32列,832個測試點,鋼,正方形,厚度2mm,邊長10mm,棋盤格型交替分布


商品詳情:

訂貨號201042:頭影畸變測試卡

標準配置:頭影畸變測試卡1只,測試報告1份,便攜箱1只


訂貨信息:


訂貨號 配置及描述 期貨價 現(xiàn)貨庫存 訂購數(shù)量 選擇
201042 YZC1732F2 頭影畸變測試卡(201042) 0 1